Presentation methods of textures measurements
Načini predstavitve teksturnih meritev

angleški

2000

letnik 34, številka 6

mikrostruktura    tekstura   orientacija    vlakna   elektropločevina

Inštitut za kovinske materiale in tehnologije
(Obvezni izvod spletne publikacije)

Mikrostrukturo materiala opišemo s koordinatami - xyz (velikost, oblika in razporeditev mikrostrukturnih elementov) in s kotnimi koordinatami - ?$\theta$?1 fi ?$\theta$?2 (ki opredeljujejo kristalografsko orientacijo v prostoru, teksturo). Tekstura je orientacijska porazdelitev kristalnih zrn v polikristalnem vzorcu. Pri vseh anizotropnih procesih v trdnem nastane tekstura, ki ima za posledico anizotropijo lastnosti materiala. Teksturo opredelimo z določanjem orientacije posameznih zrn ali z uklonom rentgenske svetlobe na polikristalnem vzorcu. Večina vseh teksturnih meritev je narejena z rentgensko uklonsko metodo (XRD - X-ray diffraction). Opisana je funkcija f(g), ki podaja volumski delež zrn z orientacijo g. S presekom tridimenzionalne orientacijske porazdelitvene funkcije (ODF), ki se ponavadi izračuna iz dvodimenzionalnih polovih figur, se lahko v primeru kovinskih materialov jasno in natančno opišejo glavne značilnosti določenega tipa teksture. Celotno ODF-funkcijo je zelo nerodno prikazovati, poleg tega pa je njena interpretacija zelo zahtevna. Omogoča identifikacijo teksture vlaken, kvantitativno analizo teksture, selektivno projekcijo in slike karakterističnih orientacijskih vlaken. Prikazani so različni načini predstavitve tekstur pri razvoju Gossove in kubične teksture v elektropločevini, legirani s Sn in Sb.

16.09.2009