URN:NBN:SI:DOC-K3H018VH1998Mach, P. J.Svasta, P. M.documents/doc/K/URN_NBN_SI_doc-K3H018VH_001.pdfdocuments/doc/K/URN_NBN_SI_doc-K3H018VH_001.txt283articlestr. 149-1530352-90451352532URN:NBN:SI:doc-K3H018VHengStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCelektrična prevodnostelektrični toknapetostnelinearnostšumupori (elektrotehnika)Study of correlation among differential nonlinearity, nonlinearity and noise of thick film resistorsŠtudij povezave med diferencialno nelinearnostjo, nelinearnostjo in šumom debeloplastnih uporov