1653 KB24 KB200020262025Chen, XiHao, ZhenjieLi, NingningLi, YiminLing, ZichengPeng, JinTang, MingqiTong, YupingWei, LeyuXu, Leištevilka:2letnik:59str. 261–266DOI:10.17222/mit.2024.1352ISSN:1580-2949COBISSID_HOST:233964291URN:URN:NBN:SI:doc-WW47KFHLenInštitut za kovinske materiale in tehnologijeMateriali in tehnologijeatomic force microscopymikroskopija na atomsko silomorfologijamorphologyNi-Al layernickel layerplast nikljatanke plasti na osnovi Ni-AlApplication of atomic force microscopy in preparing Ni-Al layer using a two-stage process| Uporaba mikroskopije na atomsko silo za pripravo Ni-Al tankih plasti z dvostopenjskim postopkom|Revija Materiali in tehnologije je znanstvena serijska publikacija, ki objavlja izvirne in tudi pregledne znanstvene članke ter tehnične novice, ki obravnavajo teoretična in praktična vprašanja naravoslovnih ved in tehnologije na področjih kovinskih in anorganskih materialov, polimerov, vakuumske tehnike in v zadnjem času tudi nanomaterialov. Revija, ki je nadaljevanje publikacije Kovine zlitine tehnologije, izhaja od leta 2000 in ima tudi elektronsko izdajo. Izdaja jo Inštitut za kovinske materiale in tehnologijeTEXTznanstveno časopisjejournalsSlovenian National E-content AggregatorNational and University Library of SloveniaInštitut za kovinske materiale in tehnologije