URN:NBN:SI:doc-P6WVMLPA1988Bratina, Gvidodocuments/doc/P/URN_NBN_SI_doc-P6WVMLPA_001.pdfdocuments/doc/P/URN_NBN_SI_doc-P6WVMLPA_001.txt118article0352-904550961408URN:NBN:SI:doc-P6WVMLPAslvStrokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materialeInformacije MIDEMInCelektrični tokelektronski mikroskopmerjenjeKarakterizacija polprevodnikov z rastrskim elektronskim mikroskopom