Ena od temeljnih vrst uporabe fokusiranega ionskega curka (FIB) je priprava vzorcev za presevno elektronsko mikroskopijo. Dualni FIB-sistem kombinira v isti komori več eksperimentalnih sistemov, kombinacija različnih tehnik pa omogoča enkratno pripravo vzorcev, manipulacijo in analizo. Sistem ima oboje: fokusirani in ozki curek Gana+ in vrstično elektronsko kolono s poljsko emisijo. V članku je opisan postopek uporabe FIB za pripravo vzorcev Al(OH)spodaj3 za presevno elektronsko mikroskopijo.

Pravice

URN

URN:NBN:SI:doc-XK0XYJV6

COBISSID

687274

Objavljeno

08.06.2010

Metapodatki

Citiranje

APA:

Nikolić, Irena, Radmilovic, Velimir, Sholklapper, Toll Z., Blecic, Dragoljub (2008). Using a FIB to prepare Al(OH)3 samples for the TEM. Materiali in tehnologije, letnik 42, številka 1, str. 45-47. URN:NBN:SI:doc-XK0XYJV6 from http://www.dlib.si

MLA:

Nikolić, Irena, Radmilovic, Velimir, Sholklapper, Toll Z., Blecic, Dragoljub. "Using a FIB to prepare Al(OH)3 samples for the TEM." Materiali in tehnologije letnik 42. številka 1 (2008) str. 45-47.
<http://www.dlib.si/?URN=URN:NBN:SI:doc-XK0XYJV6>

Materiali in tehnologije
2000-
(Zbirni zapis)

Using a FIB to prepare Al(OH)3 samples for the TEMUporaba FIB za pripravo vzorcev Al(OH)3 za TEM

Using a FIB to prepare Al(OH)3 samples for the TEM
Uporaba FIB za pripravo vzorcev Al(OH)3 za TEM