XPS and SEM of unpolished and polished FeS surface - Mandrino, Djordje (Materiali in tehnologije, 2011)
Poskusili smo izmeriti parametre prehodov Fe 2p za Fe in S v FeS, da bi jih primerjali s širokim razponom vrednosti iz literature. Vzorec FeS za meritve smo izdelali iz standardne kemikalije, ki se uporablja v kemijski analitiki. Z rentgensko fotoelektronsko spektroskopijo smo najprej opravili meritve na nepolirani in potem še na polirani površini vzorca. Z vrstično elektronsko mikroskopijo smo upodobili obe površini. Ugotovili smo, da nepolirano površino v pomembnem delu sestavljajo sulfati in sulfiti, da pa sta tudi sestava in struktura polirane površine kompleksni in da to kompleksnost čiščenje površine z ionskim jedkanjem lahko še poveča. V najboljšem primeru je sestava površine zelo slab približek za FeS, in je bolje še naprej uporabljati literaturne vrednosti za ustrezne parametre za Fe 2p in S 2p namesto direktno izmerjenih na obravnavanem vzorcu.
Keywords: železov sulfid; rentgenska fotoelektronska spektroskopija; elektronska mikroskopija; jedkanje; površine; reaktivnost