XPS and SEM of unpolished and polished FeS surface
Rentgenska fotoelektronska spektroskopija in vrstična elektronska mikroskopija nepolirane in polirane površine FeS

angleški

2011

letnik 45, številka 4

železov sulfid    rentgenska fotoelektronska spektroskopija   elektronska mikroskopija   jedkanje   površine   reaktivnost

Inštitut za kovinske materiale in tehnologije
(Obvezni izvod spletne publikacije)

Poskusili smo izmeriti parametre prehodov Fe 2p za Fe in S v FeS, da bi jih primerjali s širokim razponom vrednosti iz literature. Vzorec FeS za meritve smo izdelali iz standardne kemikalije, ki se uporablja v kemijski analitiki. Z rentgensko fotoelektronsko spektroskopijo smo najprej opravili meritve na nepolirani in potem še na polirani površini vzorca. Z vrstično elektronsko mikroskopijo smo upodobili obe površini. Ugotovili smo, da nepolirano površino v pomembnem delu sestavljajo sulfati in sulfiti, da pa sta tudi sestava in struktura polirane površine kompleksni in da to kompleksnost čiščenje površine z ionskim jedkanjem lahko še poveča. V najboljšem primeru je sestava površine zelo slab približek za FeS, in je bolje še naprej uporabljati literaturne vrednosti za ustrezne parametre za Fe 2p in S 2p namesto direktno izmerjenih na obravnavanem vzorcu.

14.08.2012