Elektronska vrstična mikroskopija pri povišanem tlaku (ESEM) - Bončina, Tonica (Vakuumist, 2011)
Keywords: environmental scanning electron microscopy; gaseous detector for secondary electrons; okoljski vrstični elektronski mikroskop; plinski detektor za sekundarne ione; pressure-limiting-aperture; reducirna zaslonka; secondary environmental electrons; sekundarni okoljski elektroni