Surface defect detection on optical devices based on microscopic dark-field scattering imaging

angleški

2015

letnik 61, številka 1

algoritem grozdov   LDF   optične naprave   segmentacija posnetka   SIFT   snemanje v temnem polju   zlaganje posnetkov

Univerza v Ljubljani, Fakulteta za strojništvo
(Obvezni izvod spletne publikacije)

.Optične naprave so pomemben del ojačevalnika moči in končnega optičnega sestava pri laserskih sistemih za inercijsko zadrževanje plazme (ICF). Točkovne in linijske napake na površini optičnih naprav močno vplivajo na učinkovitost laserskih sistemov za ICF in članek predstavlja predlog metode za zaznavanje površinskih napak na optičnih napravah. Na tej podlagi je bil tudi zasnovan in zgrajen sistem za zaznavanje napak na površini optičnih naprav. Gibanje vrstične kamere po načrtovani poti je upravljano z visokonatančno motorizirano linearno in vertikalno mizico. Vrstična kamera zajame vrsto posnetkov, narejenih z mikroskopijo v temnem polju. Prekrivanje sosednjih posnetkov, narejenih z mikroskopijo v temnem polju, je mogoče opisati s posebno transformacijo. Podan je predlog algoritma za zlaganje posnetkov na osnovi SIFT, ki daje transformacijsko matriko prekrivanja dveh sosednjih posnetkov v temnem polju.

31.07.2017