Elektronske lastnosti spoja kovina/polprevodnik so odvisne od naravne faze meje med materialoma. Z metodami za preiskavo površin lahko preiskujemo modelno fazno mejo, kot je tanka adsorbirana plast kovine, kar pomeni začetno fazo nastajajna spoja kovina/polprevodnik. Ta mikroskopski način je lahko komplementaren k meritvam električnih karakteristik spoja (I-U, C-U). Da bi prispevali k razumevanju mikroskopskih vplivov morfologije na nastanek fazne meje kovina/polprevodnik in na elektronske lastnosti na meji smo preiskali interakcijo med naparjeno kovinsko plastjo Au in različnimi morfološkimi fazami na meji Ag/Si(111), ki nastanejo pri povišani temperaturi. Iz fotoelektronskih spektrov Si 2p, Ag 3d in Au 4f, dobljenih s fotoelektronskim mikroskopom na sinhrotronu Elettra, smo sklepali na sestavo, kemijsko stanje in iz premika spektra Si 2p ter valenčnega pasu na elektronske lastnosti različnih faz.

Pravice