APA:
Bele, Zlatko (1994). Testne kartice - pomemben dejavnik pri testiranju današnjih kompleksnih mikroelektronskih vezij.
Informacije MIDEM, volume 24, issue 3, str. 182-186.
URN:NBN:SI:DOC-1Z9O4PET from http://www.dlib.si
MLA:
Bele, Zlatko. "Testne kartice - pomemben dejavnik pri testiranju današnjih kompleksnih mikroelektronskih vezij."
Informacije MIDEM volume 24. issue 3 (1994) str. 182-186.
<http://www.dlib.si/?URN=URN:NBN:SI:DOC-1Z9O4PET>