V članku obravnavamo uporabo povratno sipanih elektronov v vrstičnem elektronskem mikroskopu binarnih in psevdo-binarnih faz v jeklih in nikljevih zlitinah. Z meritvijo koeficienta povratnega sipanja in v kombinaciji z rezultati mikroanalize EDS je možno identificirati faze z lahkimi elementi, kot so karbidi, karbonitridi, nitridi in boridi, ter ugotoviti njihovo sestavo.
Nadaljuje se kot: Materiali in tehnologije

Pravice

URN

URN:NBN:SI:doc-TDAVFS93

COBISSID

86698

Objavljeno

13.05.2010

Metapodatki

Citiranje

APA:

Kaker, Henrik, Marinković, Velibor (1998). Mikroanaliza faz v jeklih in nikljevih zlitinah s povratno sipanimi elektroni v vrstičnem elekktronskem! mikroskopu. Kovine zlitine tehnologije, letnik 32, številka 5, str. 379-385. URN:NBN:SI:doc-TDAVFS93 from http://www.dlib.si

MLA:

Kaker, Henrik, Marinković, Velibor. "Mikroanaliza faz v jeklih in nikljevih zlitinah s povratno sipanimi elektroni v vrstičnem elekktronskem! mikroskopu." Kovine zlitine tehnologije letnik 32. številka 5 (1998) str. 379-385.
<http://www.dlib.si/?URN=URN:NBN:SI:doc-TDAVFS93>

Kovine zlitine tehnologije
1992-1999
(Zbirni zapis)

Mikroanaliza faz v jeklih in nikljevih zlitinah s povratno sipanimi elektroni v vrstičnem elekktronskem! mikroskopuPhase microanalysis in steels and nickel alloys by backscattered electrons in the scanning electron microscope

Mikroanaliza faz v jeklih in nikljevih zlitinah s povratno sipanimi elektroni v vrstičnem elekktronskem! mikroskopu
Phase microanalysis in steels and nickel alloys by backscattered electrons in the scanning electron microscope