Development and analyzis of fast, post-probe silicon wafer inking algorithms
Razvoj in analiza hitrih algoritmov za naknadno označevanje testiranja na silicijevih rezinah

1. PDF datoteka (518 kB)

1. TXT datoteka (15 kB)

Izvoz v EndNote (RIS format)

Avtor(ji)

Trontelj, Janez (avtor)

Jezik

angleški

Vir

Informacije MIDEM

Leto

2002

Številčenje

letnik 32, številka 4

Vsebina

polprevodniki silicijeve rezine napake testiranje algoritmi označevanje

Založnik

Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale

Izvor

Strokovno društvo za mikroelektroniko, elektronske sestavne dele in materiale
(Obvezni izvod spletne publikacije)

Pravice

URN

URN:NBN:SI:DOC-MFT4IHRO

COBISSID

3491924

Objavljeno

18.12.2015

Metapodatki

Citiranje

APA:

Trontelj, Janez (2002). Development and analyzis of fast, post-probe silicon wafer inking algorithms. Informacije MIDEM, letnik 32, številka 4, str. 316-319. URN:NBN:SI:DOC-MFT4IHRO from http://www.dlib.si

MLA:

Trontelj, Janez. "Development and analyzis of fast, post-probe silicon wafer inking algorithms." Informacije MIDEM letnik 32. številka 4 (2002) str. 316-319.
<http://www.dlib.si/?URN=URN:NBN:SI:DOC-MFT4IHRO>

Informacije MIDEM
1986-
(Zbirni zapis)

Development and analyzis of fast, post-probe silicon wafer inking algorithmsRazvoj in analiza hitrih algoritmov za naknadno označevanje testiranja na silicijevih rezinah

Development and analyzis of fast, post-probe silicon wafer inking algorithms
Razvoj in analiza hitrih algoritmov za naknadno označevanje testiranja na silicijevih rezinah