Znana površinska zaščita Ag kontaktov s tankim nanosom zlata je cenovno neugodna. Študirali smo nekatere cenejše pasivacijske plasti, ki jih lahko nanesemo dovolj tanko, da preprečimo korozijski učinek okolice in hkrati ohranimo dovolj veliko električno prevodnost stika med pasiviranima površinama, ki ustreza dobremu električnemu kontaktu. Zaščitna plast na kontaktni površini poslabša kontaktne lastnosti, če ni z električno bolj ali enako prevodnega materiala kot osnovni kontaktni material. Zato pomeni uvedba pasivacije kontaktnih površin kompromis med povečanjem stabilnosti kontakta in verjetnim poslabšanjem začetnih kontaktnih lastnosti. Tri različne pasivacijske tanke plasti smo nanesli na AgNiO.15 kontaktni material. Nanose tankih plasti po obdelavi v radiofrekvenčni plazmi (RF) smo analizirali s spektrometrom Augerjevih elektronov

Pravice

URN

URN:NBN:SI:DOC-UCFO7LUY

COBISSID

21124869

Objavljeno

18.12.2015

Metapodatki

Citiranje

APA:

Koller, Lidija, Bizjak, Martin (1999). AES characterization of protective thin layers on the AgNiO.15 contact material after its treatment in the RF plasma. Informacije MIDEM, letnik 29, številka 2, str. 68-70. URN:NBN:SI:DOC-UCFO7LUY from http://www.dlib.si

MLA:

Koller, Lidija, Bizjak, Martin. "AES characterization of protective thin layers on the AgNiO.15 contact material after its treatment in the RF plasma." Informacije MIDEM letnik 29. številka 2 (1999) str. 68-70.
<http://www.dlib.si/?URN=URN:NBN:SI:DOC-UCFO7LUY>

Informacije MIDEM
1986-
(Zbirni zapis)

AES characterization of protective thin layers on the AgNiO.15 contact material after its treatment in the RF plasmaAES karakterizacija nanosov tankih zaščitnih plasti na AgNi0.15 kontaktnem materialu po obdelavi v RF plazmi

AES characterization of protective thin layers on the AgNiO.15 contact material after its treatment in the RF plasma
AES karakterizacija nanosov tankih zaščitnih plasti na AgNi0.15 kontaktnem materialu po obdelavi v RF plazmi